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  • 发明人=彭英舟x
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IGBT模块在线监测方法

申请号:CN201610537013.1

申请日:20160708

申请人:重庆大学

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摘要:本发明提供的一种IGBT模块在线监测方法,包括待测IGBT模块和至少一个测试IGBT模块;所述待测IGBT模块和测试IGBT模块组成桥式电路,并根据如下方法测试待测IGBT模块的老化状态:向待测IGBT模块输入短路驱动电...
直流母线电容在线监测方法

申请号:CN201610536723.2

申请日:20160708

申请人:重庆大学

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摘要:本发明提供的一种直流母线电容在线监测方法,包括:驱动功率变流器中的各开关管正常工作,侦测变流器的直流母线电容的电压UC1;选取功率变流器中任一开关管为测试开关管,向测试开关管输入短路驱动电压VGT控制测试开关管处于电流饱...
IGBT老化状态检测系统

申请号:CN201610368682.0

申请日:20160527

申请人:重庆大学

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摘要:本发明提供的一种IGBT老化状态检测系统,包括测试电源、测试IGBT、可输出连续变化电流的可变驱动电路、导通驱动电路、采集单元以及上位主机;所述测试IGBT的发射极与待测IGBT的集电极连接,测试IGBT的集电极与测试电...
多IGBT模块综合老化特征量测量装置

申请号:CN201610318578.0

申请日:20160513

申请人:重庆大学

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摘要:本发明提供的多IGBT模块多老化特征量提取装置,包括待测IGBT模块、老化特征量测量主板和驱动电路,所述驱动电路设置于老化特征量测量主板,所述待测IGBT模块为多个,多个待测IGBT模块并联设置在老化特征量测量主板的测量...
用于IGBT结温估计的驱动装置及方法

申请号:CN201610225437.4

申请日:20160412

申请人:重庆大学

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摘要:本发明提供的用于IGBT结温估计的驱动装置及方法,装置包括待测IGBT模块、用于通过改变门极开通电流并从门极开通电压中提取温度感应电参数的恒流源驱动模块和用于在恒流源驱动下对IGBT结温进行估计的门极开通密勒平台;所述恒...
IGBT老化状态监测方法及装置

申请号:CN201610223894.X

申请日:20160412

申请人:重庆大学

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摘要:本发明提供的IGBT老化状态监测方法及装置,其方法包括:通过测量电路中的稳压芯片输出正常电压,当稳压芯片控制信号为高电平时,测量电路输出驱动电压使待测IGBT导通;将稳压芯片控制信号置为低电平,使稳压芯片输出电压为零,当...
IGBT老化状态监测方法及装置

申请号:CN201610223894.X

申请日:20160412

申请人:重庆大学

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摘要:本发明提供的IGBT老化状态监测方法及装置,其方法包括:通过测量电路中的稳压芯片输出正常电压,当稳压芯片控制信号为高电平时,测量电路输出驱动电压使待测IGBT导通;将稳压芯片控制信号置为低电平,使稳压芯片输出电压为零,当...
IGBT耦合热阻抗的离散化方波提取方法及装置

申请号:CN201610156973.3

申请日:20160318

申请人:重庆大学

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摘要:本发明提供的IGBT耦合热阻抗的离散化方波提取方法,包括对IGBT加热,测量小电流密度下FWD导通压降;对FWD加热,测量小电流密度下IGBT的饱和压降,根据测量小电流密度下FWD导通压降和IGBT的饱和压降,间接获取I...
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