多IGBT模块综合老化特征量测量装置

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201610318578.0 

申 请 日：20160513 

发 明 人：周雒维彭英舟张晏铭蔡杰王凯宏孙鹏菊杜雄 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20170222 

公 开 号：CN106443405A 

代 理 人：谢殿武 

代理机构：北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司11129 

摘　　要：本发明提供的多IGBT模块多老化特征量提取装置，包括待测IGBT模块、老化特征量测量主板和驱动电路，所述驱动电路设置于老化特征量测量主板，所述待测IGBT模块为多个，多个待测IGBT模块并联设置在老化特征量测量主板的测量工位，通过老化特征量测量主板获取待测IGBT模块的老化特征量参数；本发明中的多IGBT模块多老化特征量提取装置，可以在同一恒温环境下，对多个IGBT的多个老化特征量进行快速测量，最大限度的减少了测量时间和保证了测量环境的一致性，本发明通过饱和导通压降、传输特性曲线、寄生电容和IGBT开关暂态波形多种老化特征量共同进行判断，保证了测量结果的准确度。??全部 

主 权 项：一种多IGBT模块多老化特征量提取装置，其特征在于：包括待测IGBT模块、老化特征量测量主板和驱动电路，所述驱动电路设置于老化特征量测量主板，所述待测IGBT模块为多个，多个待测IGBT模块并联设置在老化特征量测量主板的测量工位，通过老化特征量测量主板获取待测IGBT模块的老化特征量参数。 

关 键 词： 

法律状态：生效 

IPC专利分类号：G01R31/28(2006.01)I