检索结果分析
- IGBT老化状态检测系统
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申请号：CN201610368682.0
申请日：20160527
申请人：重庆大学
浏览量：0 - 摘要：本发明提供的一种IGBT老化状态检测系统，包括测试电源、测试IGBT、可输出连续变化电流的可变驱动电路、导通驱动电路、采集单元以及上位主机；所述测试IGBT的发射极与待测IGBT的集电极连接，测试IGBT的集电极与测试电...
- 多IGBT模块综合老化特征量测量装置
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申请号：CN201610318578.0
申请日：20160513
申请人：重庆大学
浏览量：0 - 摘要：本发明提供的多IGBT模块多老化特征量提取装置，包括待测IGBT模块、老化特征量测量主板和驱动电路，所述驱动电路设置于老化特征量测量主板，所述待测IGBT模块为多个，多个待测IGBT模块并联设置在老化特征量测量主板的测量...
- IGBT老化状态监测方法及装置
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申请号：CN201610223894.X
申请日：20160412
申请人：重庆大学
浏览量：0 - 摘要：本发明提供的IGBT老化状态监测方法及装置，其方法包括：通过测量电路中的稳压芯片输出正常电压，当稳压芯片控制信号为高电平时，测量电路输出驱动电压使待测IGBT导通；将稳压芯片控制信号置为低电平，使稳压芯片输出电压为零，当...
- 用于IGBT结温估计的驱动装置及方法
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申请号：CN201610225437.4
申请日：20160412
申请人：重庆大学
浏览量：0 - 摘要：本发明提供的用于IGBT结温估计的驱动装置及方法，装置包括待测IGBT模块、用于通过改变门极开通电流并从门极开通电压中提取温度感应电参数的恒流源驱动模块和用于在恒流源驱动下对IGBT结温进行估计的门极开通密勒平台；所述恒...
- IGBT老化状态监测方法及装置
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申请号：CN201610223894.X
申请日：20160412
申请人：重庆大学
浏览量：0 - 摘要：本发明提供的IGBT老化状态监测方法及装置，其方法包括：通过测量电路中的稳压芯片输出正常电压，当稳压芯片控制信号为高电平时，测量电路输出驱动电压使待测IGBT导通；将稳压芯片控制信号置为低电平，使稳压芯片输出电压为零，当...
- IGBT耦合热阻抗的离散化方波提取方法及装置
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申请号：CN201610156973.3
申请日：20160318
申请人：重庆大学
浏览量：0 - 摘要：本发明提供的IGBT耦合热阻抗的离散化方波提取方法,包括对IGBT加热,测量小电流密度下FWD导通压降；对FWD加热,测量小电流密度下IGBT的饱和压降,根据测量小电流密度下FWD导通压降和IGBT的饱和压降,间接获取I...
- 基于数值迭代的功率器件散热器动态响应性能优化方法
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申请号：CN201510761224.9
申请日：20151110
申请人：重庆大学
浏览量：0 - 摘要：本发明提供的基于数值迭代的功率器件散热器动态响应性能优化方法，包括a.建立综合福斯特热网络模型，b.根据福斯特热网络模型的全响应和零输入响应，获取功率循环温度曲线；c.通过功率循环温度曲线，建立散热器数值化模型，并获取实...
- 基于数值迭代的功率器件散热器动态响应性能优化方法
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申请号：CN201510761224.9
申请日：20151110
申请人：重庆大学
浏览量：0 - 摘要：本发明提供的基于数值迭代的功率器件散热器动态响应性能优化方法，包括a.建立综合福斯特热网络模型，b.根据福斯特热网络模型的全响应和零输入响应，获取功率循环温度曲线；c.通过功率循环温度曲线，建立散热器数值化模型，并获取实...
- 多IGBT快速功率循环加速老化装置
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申请号：CN201510455872.1
申请日：20150729
申请人：重庆大学
浏览量：0 - 摘要：本发明提供的一种多IGBT快速功率循环加速老化装置，包括多个IGBT器件老化工位、用于测试的加热电流源以及用于测试的测试电流源，所述老化工位依次连接形成串联结构，所述加热电流源和测试电流源交替向串联后的老化工位供电，能够...