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  • 发明人=李现兵x
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一种SiCMosfet电性能的测试装置

申请号:CN201810283089.5

申请日:20180402

申请人:重庆大学;全球能源互联网研究院

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摘要:本发明公开了一种SiC Mosfet电性能的测试装置,它包括机械压力设备、温控箱、电压检测器、电流检测器和控制器,所述控制器包括存储器、处理器以及存储在存储器上可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现以...
一种SiCMosfet可靠性及高温老化测试装置

申请号:CN201810283776.7

申请日:20180402

申请人:重庆大学;全球能源互联网研究院

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摘要:本发明公开了一种SiC Mosfet可靠性及高温老化测试装置,它包括老化温控箱、电压检测器、电流检测器和控制器,控制器输出端口用控制线连接老化温控箱以及盐雾喷头、水喷头和水雾喷头,所述控制器包括存储器、处理器以及存储在存...
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