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  • 发明人=兰扬x
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一种用于工业CT探测器的采集电路装置及方法

申请号:CN201310094716.8

申请日:20130322

申请人:重庆大学

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摘要:本发明公开了一种用于工业CT探测器的采集电路装置和方法,属于工业CT探测器应用领域;该装置包括一个FPGA、一个信号选择单元、一个放大反相电路、一个单端转差分电路、一个A/D转换单元和两个电平转换单元;FPGA通过电平转...
一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法

申请号:CN201310092214.1

申请日:20130321

申请人:重庆大学

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摘要:本发明公开了一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法,属于工业CT系统应用领域;该方法包括以下步骤:一:将铅箔过滤片紧贴后准直器放置进行散射校正;二:设置CT系统扫描参数;三:不开射线源,采集系统的本底值;四:打开射...
一种用于CT探测采集系统的测试光源装置

申请号:CN201310081651.3

申请日:20130314

申请人:重庆大学

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摘要:本发明公开了一种用于CT探测采集系统的测试光源装置,属于CT探测采集系统测试领域;该装置包括一组产生光照的光源、一组用于检测光强值的光强传感器、一组用于调节光源供电电压的数字电阻以及一个核心处理器;每个光源对应有一个光强...
一种X射线测厚方法及装置

申请号:CN201310073027.9

申请日:20130307

申请人:重庆大学

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摘要:本发明公开了一种X射线测厚方法及装置,属于射线测量领域;该X射线测厚方法包括步骤(1):设置X射线发射器,调节其发射参数;步骤(2):开启X射线发射器,测量未放置物体时空气中的射线能量数据I<sub>0</sub>;步骤...
一种X射线测厚方法及装置

申请号:CN201310073027.9

申请日:20130307

申请人:重庆大学

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摘要:本发明公开了一种X射线测厚方法及装置,属于射线测量领域;该X射线测厚方法包括步骤(1):设置X射线发射器,调节其发射参数;步骤(2):开启X射线发射器,测量未放置物体时空气中的射线能量数据I<sub>0</sub>;步骤...
一种光电编码器旋转脉冲显示装置

申请号:CN201310064181.X

申请日:20130228

申请人:重庆大学

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摘要:本发明公开了一种光电编码器旋转脉冲显示装置,属于光电编码器测量应用领域;该显示装置包括一个光电耦合器、一个现场可编程门阵列FPGA、一个晶体振荡器、一个配置芯片和一个显示装置;光电耦合器接收光电编码器输出的AB两相脉冲信...
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