一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201310092214.1
申 请 日：20130321
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20150311
公 开 号：CN103134823B
代 理 人：赵荣之
代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
摘 要：本发明公开了一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法，属于工业CT系统应用领域；该方法包括以下步骤：一：将铅箔过滤片紧贴后准直器放置进行散射校正；二：设置CT系统扫描参数；三：不开射线源，采集系统的本底值；四：打开射线源，对当前实验室下的空气进行扫描，获取当前空气射线强度；五：扫描一组标准件，采集不同厚度下的投影数据；六：拟合曲线，得到硬化模型和卷积校正模型；七：利用卷积校正模型函数进行硬化校正，得到校正后的射线强度数据；八：用校正后的射线强度数据进行图像重建。本校正方法对射束硬化校正效果显著，能很好地保留被测物体的边缘，且能保存检测物体的细节部分，满足高精度探测的需要。
主 权 项：一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法，其特征在于：包括以下步骤:步骤一：设置CT系统扫描参数；步骤二：不开射线源，采集系统的本底值IBKG；步骤三：打开射线源，对当前实验室下的空气进行扫描，获取当前空气射线强度I0；步骤四：利用X射线CT系统对一组厚度已知的标准件进行扫描，将得到的各采样数据减去本底值得到实际有效射线强度数据I；将I代入公式PP＝LN(I0/I)中，得到不同厚度下的多色投影值PP；步骤五：以厚度L为横坐标，多色投影值PP为纵坐标，利用多项式拟合得到硬化模型PP＝G(L)；根据投影值PP在厚度L下的切线值为L对应的线衰减系数μ的关系可知μ与L的关系表达式为：μ＝PP′|L，由此可求出标准件不同厚度下对应的线衰减系数μ；步骤六：以PP为横坐标，线衰减系数μ为纵坐标，进行函数拟合建立卷积校正模型μ＝F(PP)；其中，PP=0时的值即为等效单能射线源的线衰减系数μM；步骤七：利用X射线CT系统对被测物体进行扫描，将得到采样数据减去本底值得到实际有效射线强度数据将代入公式PP＝LN(I0/I)中，得到不同厚度下的多色投影值各个通道下的值作为输入函数G(X)；步骤八：根据公式：F(N1)＝F(N2)＝1，M＝(N1+N2)2和确定卷积函数F(X)的表达式，其中N1,N2为被测物体边缘处所对应的探测器通道数，M为卷积函数的对称轴，μL为取该组厚度已知的标准件中最大厚度LMAX时对应的线衰减系数，PPL为LMAX对应的多色投影值；步骤九：用卷积函数F(X)对输入函数G(X)进行卷积，卷积结果赋给G(X)，即得到校正后的投影值，用PM表示；步骤十：将PM代入公式中，得到校正后的射线强度数据；步骤十一：将数据用于图像重建，得到校正后的CT图像。FDA00002946750600011.JPG,FDA00002946750600012.JPG,FDA00002946750600013.JPG,FDA00002946750600014.JPG,FDA00002946750600015.JPG,FDA00002946750600016.JPG,FDA00002946750600017.JPG
关 键 词：
法律状态：生效
IPC专利分类号：G01N23/04