一种高精度采样数据同步的谐波分析方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201110081937.2 

申 请 日：20110401 

发 明 人：张淮清付志红侯兴哲李春燕张谦 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号 

公 开 日：20111116 

公 开 号：CN102243272A 

代 理 人：孙荣川 

代理机构：重庆大学专利中心 50201 

摘　　要：一种高精度的采样数据同步化的谐波分析方法。适用于电网谐波分析领域。可实现电网信号的频率、幅值和相位的准确计算。本发明的技术方案是：①用于精确测定基波周期的二次多项式逆插值方法，使得基波周期计算精度提高了2个数量级(达到1.51×10-7％)；②用于非同步采样数据同步化处理的径向基函数插值方法，经径向基函数插值的同步化数据误差提高了3～4个数量级(达到1.1×10-9％)，该发明的优点是在前述同步化数据基础上的谐波参数(幅值和相位)计算精度提高了4～5个数量级。 

主 权 项：1.一种高精度采样数据同步化的谐波分析方法，其特征在于该方法按以下步骤进行：(1)、提出了一种用于精确测定基波周期的二次多项式逆插值方法：首先，基波周期是通过相邻过零时刻点的差值确定；因而，过零点的检测精度是关键，它不仅是基波周期计算的前提，也是频谱分析中相位补偿的基础；计算基波周期分为过零点检测和基波周期计算两个步骤：1)过零点的检测：找出采样序列中x(t₀)＜0，x(t₁)＞0，x(t₂)＞0的三个相邻采样点，可确定过零点位于t₀和t₁之间；采用了二次多项式逆插值方法确定过零点，其原理是：取二次插值多项式p₂(t)＝x(t₀)+x[t₀，t₁](t-t₀)+x[t₀，t₁，t₂](t-t₀)(t-t₁)，其过零点处p₂(t_zero)＝c＝0，确定过零点t_zero

关 键 词： 

法律状态：公开 

IPC专利分类号：G01R23/16