一种测试炭基吸附剂脱汞性能的方法及装置

专利类型：发明专利

语言：中文

申请号：CN201510393354.1

申请日：20150707

发明人：刘清才孔明赵冬杨剑任山王小青姚璐孟飞

申请人：重庆大学

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号

公开日：20151202

公开号：CN105115924A

代理人：王翔

代理机构：重庆大学专利中心 50201

摘　　要：本发明提供一种测试炭基吸附剂脱汞性能的方法及装置，具体包括制备混合气体、吸附、后处理和检测过程。制备混合气体模拟实际工业中烟气的环境，然后进行实验来测试炭基吸附剂脱汞性能。本发明提供的方法及装置操作简单，用气量小、测试时间短、成本低，并且能真实反映吸附剂脱汞效果，可信度高，具有重要的指导意义和参考价值。

主权项：一种测试炭基吸附剂脱汞性能的方法，其特征在于，包括制备混合气体、吸附、后处理和检测过程，所述方法具体包括以下步骤：1)将50mg粒度为2～4mm的炭基吸附剂样品装入吸附反应器中；2)将N₂、CO₂、NO、NO₂、HCl、SO₂、和O₂混合，N₂混合前经过汞渗透管将汞蒸汽带入混合气体；制得的混合气体由20ppmNO₂、300ppmNO、5～10ppm?HCl、300ppm?SO₂、6％O₂、13.5％CO₂、15±1ng/L汞和N₂组成，其中N₂作为平衡气体；3)将制得的混合气体加热至100～150℃；然后通入吸附反应器，混合气体的总流量为1L/min，吸附反应器温度为140℃；4)经步骤3)处理后的混合气体通入加热箱，对其进行加热至100℃后保温；5)经步骤4)处理后的混合气体依次通入10％SnCl₂溶液和10％NaOH溶液；6)对经步骤5)处理后的混合气体进行检测分析；采用双光束冷原子吸收法测定并通过积分穿透曲线和基准线之间的面积计算汞吸附量；其计算公式为 $A = \frac{\int_{c_{t}}^{c_{0}} c d t}{m} \times 1 / 1000;$ A表示炭基吸附剂对汞的吸附量(μg/g)；C₀表示基准线混合气体汞浓度(ng/L)；C_t表示测试过程中混合气体汞浓度(ng/L)；m表示炭基吸附剂质量(g)；c表示混合气体中汞浓度随时间变化的曲线。

关键词：

法律状态：公开

IPC专利分类号：G01N21/33(2006.01)I