一种测量弱光纤光栅反射率的方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201510213700.3 

申 请 日：20150429 

发 明 人：陈伟民张伟雷小华许亨艺李竞飞 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号 

公 开 日：20171208 

公 开 号：CN104792502B 

代 理 人：廖曦 

代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 

摘　　要：本发明涉及一种测量弱光纤光栅反射率的方法，属于光谱测量技术领域。该方法具体包括以下步骤：将被测光纤光栅放置在低反射率光纤光栅反射率测试系统中；再将被测光纤光栅的UPC型光纤接头端清洁干净，并将它置于介质1中，获得被测光纤光栅的反射谱；然后保持系统固定，迅速再将UPC型光纤接头清洁干净后置于介质2中，再次获得被测光纤光栅的反射谱；最后利用两个反射光谱的峰值计算被测弱光纤光栅的反射率。本发明提供的一种测量弱光纤光栅反射率的方法，通过获取双反射光谱来计算测量弱光纤光栅反射率，消除了光纤端面及光纤接头连接对测量的影响，并且极大地减小了光源功率抖动的问题，能够满足精确测量弱光纤光栅反射率的要求。 

主 权 项：一种测量弱光纤光栅反射率的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：S1：将被测光纤光栅放置在低反射率光纤光栅反射率测试系统中；S2：将被测光纤光栅的UPC型光纤接头端清洁干净，并将它置于介质1中，获得被测光纤光栅的反射谱；所述介质1的折射率为已知参数；S3：保持系统固定，迅速再将UPC型光纤接头清洁干净后置于介质2中，再次获得被测光纤光栅的反射谱；所述介质2的折射率为已知参数；S4：利用两个反射光谱的峰值计算被测弱光纤光栅的反射率。 

关 键 词： 

法律状态：生效 

IPC专利分类号：G01M11/02