一种基于X射线能谱CT和X射线荧光CT技术的双模态分子成像系统

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201510604412.0 

申 请 日：20150918 

发 明 人：冯鹏何鹏蒋上海魏彪 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号 

公 开 日：20151125 

公 开 号：CN105092617A 

代 理 人：赵荣之 

代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 

摘　　要：本发明涉及一种基于X射线能谱CT和X射线荧光CT技术的双模态分子成像系统，属于X射线探测与成像技术领域。该成像系统包括一个射线源、一个X射线能量分辨光子计数探测器和一个X射线荧光探测器，该成像系统的射线源采用一个多色的微焦点X光源，可同时为X射线能谱CT和X射线荧光CT成像提供X射线束，从而使得该系统具有X射线能谱CT成像功能和X射线荧光CT成像功能。该成像系统能够很好的解决医学CT图像不同软组织对比度较差等问题，可以提高基于X-CT技术的结构和功能成像效果。 

主 权 项：一种基于X射线能谱CT和X射线荧光CT技术的双模态分子成像系统，其特征在于：该成像系统包括：一个射线源、一个X射线能量分辨光子计数探测器和一个X射线荧光探测器，该成像系统的射线源采用一个多色的微焦点X光源，可同时为X射线能谱CT和X射线荧光CT成像提供X射线束，从而使得该系统具有X射线能谱CT成像功能和X射线荧光CT成像功能。 

关 键 词： 

法律状态：公开 

IPC专利分类号：G01N23/04(2006.01)I;G01N23/06(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I