一种基于变相移的四步相移的面结构光解相方法

专利类型：发明专利

语言：中文

申请号：CN201910482281.1

申请日：20190604

发明人：刘飞吴延雪吴高旭罗惠方张茵楠杨时超严谨吴明雄张圣明

申请人：重庆大学

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号

公开日：20190906

公开号：CN110207621A

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摘　　要：本发明公开了一种基于变相移的四步相移的面结构光解相方法,通过生成一组包含变相移的四步相移信息的条纹光栅图像,并通过相对应的相位解算算法对被采集图像进行相位信息的重新解算而得到相位信息。该基于变相移的四步相移的面结构光解相方法仅使用四幅竖直条纹光栅图像,不需要更多的图像或者额外的预知信息,在保证结构光三维测量中本身的精度和优点下,提高了测量速度。同时,本发明方法在抗噪性上也有较好的效果,算法具有较好的鲁棒性。

主权项：1.一种基于变相移的四步相移的面结构光解相方法,其特征在于,包括如下步骤：步骤1：确定用于解包裹相位的节距p；步骤2：根据步骤1确定的节距生成一组变相移的四步相移条纹光栅图像,分别记为投影图像1、投影图像2、投影图像3和投影图像4；步骤3：将投影图像1、投影图像2、投影图像3和投影图像4分别通过投影仪投射到物体表面,并通过相机采集图像,获得采集图像1、采集图像2、采集图像3和采集图像4；步骤4：根据步骤3中获得采集图像1、采集图像2、采集图像3和采集图像4,计算对应采集图像的各点相移α(i,j)；步骤5：根据步骤4中获得相移α(i,j),计算采集图像的条纹顺序k；步骤6：根据步骤4中获得相移α(i,j),计算采集图像的包裹相位φ'(i,j)；步骤7：根据步骤5中获得条纹顺序k和步骤6中获得包裹相位φ'(i,j),计算采集图像的绝对相位φ(i,j)。

关键词：

法律状态：

IPC专利分类号：G01B11/25