测量位移的方法及位移传感器

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN98111834.8 

申 请 日：19980121 

发 明 人：彭东林 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044重庆市沙坪坝正街174号 

公 开 日：19981111 

公 开 号：CN1198526 

代 理 人：张荣清 

代理机构：重庆大学专利事务所 

摘　　要：测量位移的方法及位移传感器属于位移精密测量的方法及装置。本发明所述方法包括建立两套坐标系,在其中一套坐标系中设立时间考查点,建立位移与匀速和时钟脉冲累积表示的时间差之间的数学模型；本发明所述的装置包括时空信号转换装置的输入端分别与时钟和位移发生装置连接,其输出端与波形整理电路连接。本发明能精密测量位移,易于加工,结构简单,抗干扰,且易于智能化。 

主 权 项：一种测量位移的方法,其特征在于：(1)建立相对静止的和 以匀速V运动的两套坐标系S和S’,得到位移在两套坐标系 中的互换关系；(2)在静止坐标系S距参考点W处设立时间 考查点,考查动坐标系S’的质点P和参考点到达考查点的时 间差；(3)将动坐标系S’中的质点P点与参考点的位置差 x’,转由P点和参考点分别到达静止坐标系S上考查点的时 间T↓［i］和T↓［o］之差与速度V的乘积表示,并将时 间T↓［i］和T↓［o］之差用时钟脉冲求和表示x＝V∑ P↓［t］其中x－位移V－运动坐标系运动速度∑P↓［t ］－由时钟脉冲累积表示的时间差。 

关 键 词： 

法律状态： 

IPC专利分类号：G01B7/004