一种基于光散射测量的细胞周期检测方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201710404668.6
申 请 日：20170601
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20170929
公 开 号：CN107219196A
代 理 人：黄河
代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司50212
摘 要：本发明提供了一种基于光散射测量的细胞周期检测方法，能够借助散射光强度分布曲线真实反映生物细胞在细胞周期过程中各个阶段G1期、S期、G2期和M期的变化，并将这种差异作为散射光强法测定细胞周期的主要参数，根据不同周期细胞在不同角度的光散射特性差异可以很方便直观的判断出待测细胞处于哪个周期，从而能够准确地对生物细胞的生长行为和周期进行判断和描述，其操作流程简单，测量速度快，也不需要对细胞进行染色处理，对细胞没有损伤，测量过后的细胞样品还可以重复利用，有利于在生物医学研究过程中推广应用，也可用于在体检测，并且能够用于多种不同种类的生物细胞、病毒细胞的细胞周期对比分析和相关研究，具有很好的技术应用前景。??全部
主 权 项：一种基于光散射测量的细胞周期检测方法，其特征在于，采用各不同细胞周期的细胞样品分别制成具有指定浓度的对应各不同细胞周期的样品细胞悬液，利用广角光散射仪分别进行散射光强度测量，得到各个细胞周期的样品细胞悬液各自对应的散射光强度分布曲线；然后针对待测细胞样本，制成具有同样指定浓度的待测细胞悬液，在相同测量条件下利用广角光散射仪进行散射光强度测量，得到待测细胞悬液的散射光强度分布曲线，并分别与各个不同细胞周期的样品细胞悬液各自对应的散射光强度分布曲线进行对比，确定与待测细胞悬液的散射光强度分布曲线相匹配的一个细胞周期的样品细胞悬液，将该细胞周期判定为待测细胞样本的细胞周期。
关 键 词：
法律状态：公开
IPC专利分类号：G01N21/47(2006.01)I