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自标定自编码成像法多点动态挠度/位移测量方法及装置
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN200510020324.2
申 请 日：20050201
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20080827
公 开 号：CN100414250C
代 理 人：侯懋琪
代理机构：重庆弘旭专利代理有限责任公司
摘 要：本发明涉及一种自标定自编码成像法多点动态挠度/位移测量方法及装置。该装置包括安装在被测目标上的靶标、光电摄像系统及计算机，其靶标为两个具有规则形状、相互间隔一定距离的光源。本发明还涉及一种以该装置进行自标定、自编码成像法多点动态挠度/位移测量的方法。本发明的优点是：实现成像倍率自标定、靶标自编码，动态测量简单。
主 权 项：1. 一种自标定自编码成像法多点动态挠度/位移测量方法，该方法包括下列步骤：1)开启靶标；2)光电摄像系统拍摄靶标的图像并将图像传送到计算机作图像处理，计算出光电摄像系统的探测器上两个线光源图像的中心距h和两线光源中心点o坐标；3)根据A＝H/h，自动标定出该靶标的位置的成像倍率。其中：A为成像倍率，H为两线光源的距离；4)当被测目标产生位移d时，靶标随之位移向下移动d到位置2’，光电摄像系统再次拍摄靶标的图像并将图像传送到计算机作图像处理，计算出位移后两个线光源图像的中心点o’坐标，o到o’的距离d’；5)用d’乘上成像倍率A，即得到被测点的实际位移d。
关 键 词：
法律状态：公开
IPC专利分类号：G01B11/16(2006.01);G01N3/08(2006.01)