一种基于微分法的接地网拓扑结构检测方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201310079735.3
申 请 日：20130313
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20151118
公 开 号：CN103135137B
代 理 人：刘小红
代理机构：重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102
摘 要：本发明公开了一种基于微分法的接地网拓扑结构检测方法，通过选定一矩形测量区域，在测量区域内利用接地网的上引接地体，从一点注入电流并从另一点抽出电流，测量接地网地表面垂直于地表面方向的磁感应强度或平行于地表面方向的磁感应强度，经过对磁感应强度进行数字滤波处理后消去噪音干扰，通过微分法，首先求取垂直于地表面方向的磁感应强度的1阶导数的模、3阶导数的模、5阶导数的模或平行于地表面方向的磁感应强度的2阶导数的模、4阶导数的模，其次获取主瓣峰值的坐标位置，即为测量区域内接地网支路所在位置，最后根据接地网支路所在位置绘制接地网拓扑结构。整个过程检测过程简单，计算量小。
主 权 项：一种基于微分法的接地网拓扑结构检测方法，其特征在于包括以下步骤：步骤一，在接地网地表面确定一个测量区域S，获取所述测量区域S的磁感应强度，包括垂直于地表面方向的磁感应强度和/或平行于地表面方向的磁感应强度
；步骤二，分别获取垂直于地表面方向的磁感应强度
的1阶导数的模
、3阶导数的模
、5阶导数的模
，和/或平行于地表面方向的磁感应强度
的2阶导数的模
、4阶导数的模
；步骤三，根据步骤二中所述各阶导数的模确定测量区域S内的接地网支路所在位置，该接地网支路所在位置是通过获取步骤二中所述各阶导数的模的主瓣峰值的坐标位置来确定的，然后绘制出测量区域S内的接地网拓扑结构。
关 键 词：
法律状态：授权
IPC专利分类号：G01V3/08(2006.01)I