专利类型:发明专利
语 言:中文
申 请 号:CN200810232952.0
申 请 日:20081029
申 请 人:重庆大学
申请人地址:400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日:20090318
公 开 号:CN101387563A
代 理 人:张先芸
代理机构:重庆博凯知识产权代理有限公司
摘 要:本发明提供一种建筑膜结构预张力测量方法及测量装置,该方法步骤如下:将一质点小球入射一固定边界的张拉膜面,使膜面产生振动,同时小球被弹回;测量同一固定边界的张拉膜面内小球的入射速度v0,返回速度vt,膜面中点最大位移(振幅)Tmax,以及小球的质量m0;调换经纬方向重复测量出Tmax、v0、vt;根据公式:π2habTmax2[((σ0x/a2)+(σ0y/b2))+(π2/32)((Ex/a4)+(Ey/b4))·Tmax2]=4m0(v02-vt2)并测得两组Tmax、v0、vt值,求解得到膜面张力σ0x和σ0y。本方法以薄膜大挠度理论为基础,较以前的方法,其在理论上更接近实际,理论精度更高;适用于各种膜材,能测出膜材正交两个方向的预张力,且能测量膜在不同的荷载作用下的张力,能很快应用到实际工程中。该装置结构简单、成本较低,应用十分方便。
主 权 项:1、建筑膜结构预张力测量方法,其特征在于,包括如下步骤:A)将一质点小球入射一固定边界的张拉膜面,使膜面产生振动,同时小球被弹回;B)测量同一固定边界的张拉膜面内小球的入射速度v0,返回速度vt,膜面中点最大位移(振幅)Tmax,以及小球的质量m0;调换经、纬方向重复测量出Tmax、v0、vt;C)根据公式:以及步骤B)测得的两组Tmax、v0、vt值,求解得到膜面张力σ0x和σ0y;公式中:h为膜材厚度,a为矩形膜材沿x向长度,b为矩形膜材沿y向长度,Tmax为膜材中心最大位移(即振幅),σ0x为x向初拉应力,σ0y为y向初拉应力,Ex为x向弹性模量,Ey为y向弹性模量;各个量的单位采用国际单位制。
关 键 词:
法律状态:公开
IPC专利分类号:G01L1/00(2006.01)I;G01L5/04(2006.01)I