专利类型:发明专利
语 言:中文
申 请 号:CN201810066650.4
申 请 日:20180124
申 请 人:重庆大学
申请人地址:400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日:20180914
公 开 号:CN201810066650.4
代 理 人:
代理机构:
摘 要:本发明公开了一种基于普适绝缘层的OFET管驱动,包括栅极(1)、绝缘层(2)、有源层(3)、源极(4)和漏极(5),绝缘层(2)为一种普适材料PVP,在栅极(1)表面上覆盖PVP层(2),在PVP层(2)上覆盖有源层(3)。有源层(3)为P型有源层Pentance(31)和N型有源层F16CuPc(32),在绝缘层(2)表面上覆盖Pentance和F16CuPc,形成为有序晶体状有机薄膜。本方法发明包括步骤:1、ITO基片的预处理;2、在基片上旋涂绝缘层;3、蒸镀Pentance和F16CuPc;4、源漏电极的制备。本发明的OFET管驱动提高了OFET管驱动性能,且能降低OFET管驱动制备难度,制备工艺简单;实现一种同时满足在空气中稳定且性能优良的OFET管驱动,本方法发明在微电子及应用电子领域有广泛的应用价值。
主 权 项:1.一种基于普适绝缘层的OFET管驱动,包括栅极(1)、绝缘层(2)、有源层(3)、源极(4)和漏极(5),其特征是:绝缘层(2)为一种普适材料PVP,在栅极(1)表面上覆盖PVP层(2),在PVP层(2)上覆盖有源层(3)。有源层(3)为P型有源层Pentance(31)和N型有源层F16CuPc(32),在绝缘层(2)表面上覆盖Pentance和F16CuPc,形成为有序晶体状有机薄膜。
关 键 词:绝缘层;驱动;源层;制备;覆盖;预处理;驱动性能;应用电子;有机薄膜;源漏电极;制备工艺;晶体状;漏极;上旋;源极;蒸镀;微电子;应用
法律状态:生效
IPC专利分类号:H01L51/05;H01L51/00;H01L51/40;H01L51/00;H;H01;H01L;H01L51;H01L51/05;H01L51/00;H01L51/40;H01L51/00