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多探头磁记忆检测装置
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201210235833.7
申 请 日：20120709
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400030 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20150520
公 开 号：CN102735745B
代 理 人：魏晓波
代理机构：北京集佳知识产权代理有限公司 11227
摘 要：本发明提供了一种多探头磁记忆检测装置，用于检测退役机床主轴的疲劳裂纹，包括：多个连接在一起并沿主轴的周向布置的基体块，基体块上设置有沿其厚度方向延伸的螺纹通孔；和，设置在基体块上并穿过螺纹通孔的探头，探头的头部设置在靠近主轴的一端；相邻的两个基体块均通过连接块可拆卸地相连，连接块包括两块成一定角度对接在一起的连接板。由于相邻的两个基体块均通过连接块可拆卸地相连，基体块之间为分离式结构，在不使用上述检测装置时，将基体块之间拆开存放在箱子里，便于携带到现场，待需要应用时，再重新将基体块通过连接块组装在一起即可。故，本发明提供的多探头磁记忆检测装置便于携带。
主 权 项：一种多探头磁记忆检测装置，用于检测退役机床主轴的疲劳裂纹，包括：多个连接在一起并沿主轴的周向布置的基体块（1），所述基体块（1）上设置有沿其厚度方向延伸的螺纹通孔（11）；和设置在所述基体块（1）上并穿过所述螺纹通孔（11）的探头（2），所述探头（2）的头部（21）设置在靠近所述主轴的一端；其特征在于，相邻的两个所述基体块（1）均通过连接块（3）可拆卸地相连，所述连接块（3）包括两块成一定角度对接在一起的连接板（32）。
关 键 词：
法律状态：公开
IPC专利分类号：G01N27/82(2006.01)I