一种优化的K-edge成像方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201310461840.3 

申 请 日：20130930 

发 明 人：何鹏魏彪丛文相王革冯鹏 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20140122 

公 开 号：CN103530849A 

代 理 人：刘小红 

代理机构：重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 

摘　　要：本发明公开了一种优化的K-edge成像方法，本方法在K-edge前后两个X射线能量段进行成像以提高已知材料成像对比度。K-edge前后两个X射线能量段的宽度决定了两个能谱CT图像的对比度和噪声水平，针对如何设置K-edge前后两个X射线能量段的宽度问题，本发明引入信号差异噪声比（Signal?Difference?to?Noise?Ratio,SDNR）作为最优化准则，在这个最优化准则的约束下，选取了最优的X射线能量段的宽度，然后进行K-edge成像。这种成像方法，能够在保证两个重建能谱CT图像感兴趣区域噪声最小化的同时，可以获得最大的对比度差异，从而达到提高已知材料成像对比度的目的。可以用于生物医学CT成像领域。 

主 权 项：一种优化的K?edge成像方法，其特征在于:在K?edge两侧取两个X射线能量段进行K?edge成像，其中所述两个X射线能量段宽度相等，且利用信号差异噪声比作为最优化约束准则，获取使信号差异噪声比最大的最佳的X射线能量段宽度w，以此进行CT成像。 

关 键 词： 

法律状态：生效 

IPC专利分类号：G06T5/00(2006.01)I;G06T11/00(2006.01)I