基于大气环境参数的绝缘子积污预测方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201810144520.8
申 请 日：20180212
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20180807
公 开 号：CN201810144520.8
代 理 人：邬剑星
代理机构：重庆谢成律师事务所 50224
摘 要：本发明提供的一种基于大气环境参数的绝缘子积污预测方法，包括下述步骤：S1：采集大气环境参数；S2：对大气环境参数中的大气污秽颗粒物粒径和质量浓度依次进行预处理和离散化处理形成颗粒质量浓度—粒径离散关系集合；S4：获取颗粒质量浓度—粒径离散关系集合中的大气污秽颗粒质量浓度和调用单位时间绝缘子积污量数据库中的绝缘子表面积污量，计算各检测时间段内的绝缘子表面积污增量；S5：对各检测时间段内的绝缘子表面积污增量进行叠加，得到持续积污时间段的绝缘子表面总积污量。本发明不需要组织人力开展现场绝缘子污秽度测量，只需要常规的大气环境参数检测，对绝缘子表面积污量进行预测，获得输配电外绝缘污秽状态。
主 权 项：1.一种基于大气环境参数的绝缘子积污预测方法，其特征在于：包括下述步骤：S1：采集大气环境参数，其中，大气环境参数包括大气污秽颗粒物粒径和质量浓度；S2：对大气环境参数中的大气污秽颗粒物粒径和质量浓度进行预处理形成污秽颗粒质量分数—粒径连续函数，并对该连续函数再进行离散化处理形成颗粒质量浓度—粒径离散关系集合；S4：根据采集的大气参数，获取颗粒质量浓度—粒径离散关系集合中的大气污秽颗粒质量浓度和调用单位时间绝缘子积污量数据库中的绝缘子表面积污量，计算各检测时间段内的绝缘子表面积污增量；S5：对各检测时间段内的绝缘子表面积污增量进行叠加，得到持续积污时间段的绝缘子表面总积污量。
关 键 词：大气环境参数;绝缘子表面;绝缘子;时间段;大气污秽;离散关系;粒径;检测;预测;集合;预处理;绝缘子污秽度;颗粒物粒径;离散化处理;外绝缘污秽;常规的;调用;叠加;数据库;测量;采集
法律状态：生效
IPC专利分类号：G06F17/50;G06F17/00;G06Q10/04;G06Q10/00;G;G06;G06F;G06Q;G06F17;G06Q10;G06F17/50;G06F17/00;G06Q10/04;G06Q10/00