利用细胞自发荧光光谱测定细胞周期的方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN200810070303.5
申 请 日：20080916
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20120201
公 开 号：CN101363836B
代 理 人：张先芸
代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司 50212
摘 要：本发明公开一种利用细胞自发荧光光谱测定细胞周期的方法。该方法利用细胞在细胞周期(G1期、S期、G2期和M期)变化过程中胞内荧光物质(如氨基酸、核酸、蛋白质等)的不断变化对其荧光光谱的峰位、谱峰及峰强造成的影响，找出这些参数与细胞所处周期的对应关系，建立特定细胞的细胞周期荧光光谱模型，最终利用该模型实现对单个细胞周期的准确测定。本发明制样简单、操作方便、仪器设备普遍、准确性高、测量速度快，应用细胞吸收峰强度随细胞周期变化的关系，可很方便的对细胞的细胞周期进行判断，细胞样品无需采用荧光染剂对染色，从而消除了荧光染剂的使用带来的副作用，使得细胞在测量后还可用于后继培养和研究。
主 权 项：1、利用细胞自发荧光光谱测定细胞周期的方法，其特征在于，包括如下步骤：1)将某种细胞的单个细胞作为一个变化体系，用处于正常生长状态下的细胞周期G1期、S期、G2期和M期的单个细胞作为标准样品；2)利用荧光分光光度计或荧光光谱仪测出被测细胞标准样品的最佳激发波长，以最佳激发波长做激发光测量该波长到700NM间的荧光光谱；3)利用荧光分光光度计或荧光光谱仪在最佳激发波长到700NM范围内，对与所述标准样品同种类的被测样品进行扫描，对所得光谱曲线进行预处理后，将被测样品光谱曲线的吸收峰强度与所述某种细胞周期的荧光光谱模型的吸收峰强度对比，即可判断出被测细胞处于细胞周期的哪一阶段；对于在荧光光谱范围内只有一个荧光峰的情况，则直接利用该荧光峰强度与细胞周期的关系建立模型通过荧光峰强度对细胞周期进行判别；对于在荧光光谱范围内有多个峰的情况，则采用距离激发波长最近的荧光峰，再利用该关系对细胞周期进行判别。
关 键 词：
法律状态：生效
IPC专利分类号：G01N33/48; C12Q1/02; G01N21/64