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一种基于核磁共振的交联聚乙烯电缆老化程度评估方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201210502477.0
申 请 日：20121130
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20150610
公 开 号：CN102998323B
代 理 人：刘小红
代理机构：重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102
摘 要：本发明涉及一种基于核磁共振的交联聚乙烯电缆老化程度评估方法，通过核磁共振分析仪测试比较交联聚乙烯电缆在不同老化程度下的分子结构，得到交联聚乙烯老化程度与温度及时间之间的比例关系，从而根据该比例关系获得待评估交联聚乙烯电缆的老化状态与剩余寿命。本发明实现了从微观角度对绝缘材料老化性能的检测。
主 权 项：一种基于核磁共振的交联聚乙烯电缆老化程度评估方法，其特征是，包括以下步骤：1）利用核磁共振获取正常交联聚乙烯电缆的分子结构取正常交联聚乙烯电缆的绝缘层材料，沿着绝缘层轴向方向取样，并切成大小均匀的颗粒，称取1.2克作为正常样品，利用核磁共振分析仪对正常样品进行分析，获取正常交联聚乙烯电缆的峰面积SP0以及纵向弛豫时间RTL0；2）对正常交联聚乙烯电缆进行老化试验并取样取正常交联聚乙烯电缆，切成若干段短电缆，每段短电缆长15～20厘米，利用空气热老化箱在90℃、110℃以及130℃三个温度下，对短电缆进行老化试验，每个温度下取样7次，每次取样的时间间隔呈等比关系；将老化试验后的短电缆分别沿着绝缘层轴向方向取样，并切成大小均匀的颗粒，称取1.2克作为老化样品；3）对老化交联聚乙烯电缆特征量进行核磁共
关 键 词：
法律状态：授权
IPC专利分类号：G01N24/08(2006.01)I