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全光纤环型反射面结构的微型F-P折射率传感器
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN200910104435.X
申 请 日：20090724
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20091230
公 开 号：CN101614662A
代 理 人：侯懋琪
代理机构：重庆市恒信知识产权代理有限公司
摘 要：本发明公开了一种全光纤环型反射面结构的微型F-P折射率传感器，它由普通单模光纤、大芯径空芯光纤和中心有通孔的光纤组成，普通单模光纤、大芯径空芯光纤、中心有通孔的光纤顺次熔接固定，大芯径空芯光纤和中心有通孔的光纤纤芯相通，中心有通孔的光纤和大芯径空芯光纤的接触面形成环型反射面；本发明的有益技术效果是：提供了一种制作简单、体积小、测量精度高、应用范围广、抗干扰能力强的新型折射率传感器。
主 权 项：1、一种全光纤环型反射面结构的微型F-P折射率传感器，其特征在于：它由普通单模光纤(1)、大芯径空芯光纤(2)和中心有通孔的光纤(3)组成，普通单模光纤(1)、大芯径空芯光纤(2)、中心有通孔的光纤(3)顺次熔接固定，且大芯径空芯光纤(2)和中心有通孔的光纤(3)纤芯相通；普通单模光纤(1)和中心有通孔的光纤(3)的外径都介于大芯径空芯光纤(2)的内径和外径之间，且中心有通孔的光纤(3)和大芯径空芯光纤(2)的接触面形成环型反射面。
关 键 词：
法律状态：
IPC专利分类号：G01N21/41(2006.01)I;G02B6/255(2006.01)I