一种基于光电检测器件的非接触式自动扶梯多参数测量方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201410654613.7
申 请 日：20141114
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20170915
公 开 号：CN104528508B
代 理 人：赵荣之
代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
摘 要：本发明涉及一种基于光电检测器件的非接触式自动扶梯多参数测量方法，属于光学测量技术领域，包括以下步骤：1)开启光源，照亮自动扶梯；2)自动扶梯反射光线传送到光电检测器件上，扶梯的移动轨迹便会被记录为一组高速拍摄的连贯图像；输出图像信号，送入A/D转换模块进行转换；3)把转换结果送入图像处理模块进行处理，将此影像信号与存储的上一采样周期的影像进行比较；4)如果采样点在先后两个影像中的位置有移动，就将纵、横两个方向的位移信号发送到单片机系统，以判断被测物移动的方向以及位移；否则继续进行下一周期采样；5)将判断结果传送至监控终端，实现对扶梯的实时监测和控制。采用本方法进行测量，不与被测对象直接接触，在测量中不存在摩擦和对被测对象施加压力的问题，不会因磨损产生误差，能够实现被测物体的动态测量。
主 权 项：一种基于光电检测器件的非接触式自动扶梯多参数测量方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一：开启光源，照亮自动扶梯梯级或扶手带；步骤二：自动扶梯梯级或扶手带表面反射一部分光线经光学透镜传到光电检测器件上，梯级或扶手带的移动轨迹便会被记录为一组高速拍摄的连贯图像；步骤三：采用设定的输出频率输出图像信号，送入A/D转换模块进行转换；步骤四：把转换结果送入图像处理模块DSP进行处理，提取特征区域或边沿，将此影像信号与存储的上一采样周期的影像进行比较；步骤五：如果某一采样点在先后两个影像中的位置有移动，就将纵、横两个方向的位移信号发送到单片机系统，以判断被测物移动的方向以及位移；否则继续进行下一周期采样；步骤六：将判断结果传送至监控终端，实现对扶梯的实时监测和控制。
关 键 词：
法律状态：公开
IPC专利分类号：B66B27/00; B66B25/00