一种横向前射光光纤几何参数和折射率分布测量方法

专利类型：发明专利

语言：中文

申请号：CN95113060.9

申请日：19951108

发明人：文玉梅黄尚廉李平王晓余

申请人：重庆大学

申请人地址：630044四川省重庆市沙坪区沙坪坝正街174号

公开日：19961225

公开号：CN1138690

代理人：

代理机构：

摘　　要：本发明公开了一种测量光纤、光纤预制棒以及具有径向折射率分布和非零定常透射率的物体的几何参数及折射率分布的测量方法。它利用横向前射光的光强分布直接对由于折射率变化引起了变化的横向前射光光线轨迹进行多点测量,确定出轨迹函数,从而计算出折射率分布,并利用光强分布的特征点,测量几何参数。本测量方法是一种无损检测方法,测量直观、精度高。

主权项：一种通过穿过光纤的横向前射光测量光纤包层的几何尺寸、形状和包层与纤芯的同轴度的方法,用非相干平行光垂直于光纤芯轴从光纤侧面入射,观察物镜的光轴和入射光线平行,其特征在于：移动光纤使物镜的焦平面定位在横向透射过光纤纤芯的光线的汇聚点或汇聚区域到入射面之间的任一选定位置,第一步,获得焦平面在该位置时的光强密度分布确定包层界面和光纤的中心点,同时实现光纤在该位置时垂直于入射光的包层的外径和光纤的中心位置的测量；第二步,绕光纤芯轴转动光纤固定角度,重复第一步；第三步,重复第二步,直至光纤转动一周,实现测量光纤包层的几何形状、尺寸和包层与纤芯的同轴度。

关键词：

法律状态：

IPC专利分类号：G01B11/00;G01N21/41