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微流控芯片观测台以及双视野微流控芯片观测系统
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201010166212.9
申 请 日：20100507
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20120208
公 开 号：CN101923045B
代 理 人：谢殿武
代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
摘 要：本发明公开了一种微流控芯片观测台以及使用该观测台的双视野微流控芯片观测系统，其中，微流控芯片观测台的包括由遮光壁隔开的第一腔体和第二腔体，第一腔体和第二腔体并排，第一、第二腔体上端面构成芯片观测端面；第一、第二腔体上端分别开有观测口。高、低倍显微镜分别位于以微流控芯片观测台的观测端面为界的上、下方，高、低倍显微镜的成像光路互不干扰。在微流控芯片观测中，该系统可同时使用高、低倍显微镜进行多参数、多视野的观测，使毫米级微流控芯片的宏观、微观数据的同时观测成为可能；该系统可应用于微流控芯片的混合反应、分离、细胞操作等试验的多参数观测。
主 权 项：一种微流控芯片观测台，其特征在于：包括由遮光壁隔开的第一腔体和第二腔体，第一腔体和第二腔体并排，第一腔体和第二腔体上端面构成微流控芯片观测台的观测端面；第一腔体对应的观测端面开有第一芯片观测口，第二腔体对应的观测端面开有第二芯片观测口；第二腔体四周密闭遮光，下端开口；第一腔体至少三面密闭遮光。
关 键 词：
法律状态：生效
IPC专利分类号：G01N21/15; G01N21/01