张拉膜结构预张力测量方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201010517054.7 

申 请 日：20101022 

发 明 人：郑周练刘长江何晓婷宋伟举徐云平龙俊龚文川吴奎郭建军孙俊贻 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20120801 

公 开 号：CN102032968B 

代 理 人：张先芸 

代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 

摘　　要：本发明提供一种张拉膜结构预张力测量方法，该方法步骤如下：1)将一质点小球入射一固定边界的张力膜面，并使小球弹回；2)同时，测量该固定边界张拉膜面内小球的入射速度v0和反射速度vt，2)测量同一固定边界的张拉膜面内小球的入射速度v0和反射速度vt，再以不同的入射速度入射膜面同一点，测量另一组入射和反射速度v′0和v′t；3)将步骤2)测得的两组入射和反射速度值(v0，vt)和(v′0，v″t)代入公式vt＝k′v0+c＝f(σ0x，σ0y)v0+g(σ0x，σ0y)中，求解得到k′和c；4)通过查膜材预张力级别下vt＝k′v0+c的回归系数表，得到膜材预张力σ0x和σ0y。本发明方法以数值分析和理论论证为基础，找到了入射速度、反射速度和膜面预张力的直接关系，提出了具体的方法以实现只通过测量入射速度和反射速度来获得膜材预张力的方法，并由算例验证了本方法的可行性。 

主 权 项：张拉膜结构预张力测量方法，其特征在于，步骤如下：1)将一质点小球入射一固定边界的张力膜面，并使小球弹回；2)同时，测量该固定边界张拉膜面内小球的入射速度V0和反射速度VT，再以不同的入射速度入射膜面同一点，测量另一组入射和反射速度V′0和V′T；3)将步骤2)测得的两组入射和反射速度值(V0，VT)和(V′0，V′T)代入公式VT＝K′V0+C＝F(σ0X，σ0Y)V0+G(σ0X，σ0Y)中，求解得到K′和C；4)根据公式：K′＝F(σ0X，σ0Y)和C＝G(σ0X，σ0Y)，通过查膜材预张力级别下VT＝K′V0+C的回归系数表，得到膜材预张力σ0X和σ0Y；公式中，σ0X?为X向预张力，单位为KN/M；σ0Y?为Y向预张力，单位为KN/M；V0?为小球入射速度，单位为M/S；VT?为小球反射速度，单位为M/S。 

关 键 词： 

法律状态：公开 

IPC专利分类号：G01L5/04