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自标定自编码成像法多点动态挠度/位移测量方法及装置
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN200510020324.2
申 请 日：20050201
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20050803
公 开 号：CN1648601A
代 理 人：侯懋琪
代理机构：重庆弘旭专利代理有限责任公司
摘 要：本发明涉及一种自标定自编码成像法多点动态挠度/位移测量方法及装置。该装置包括安装在被测目标上的靶标、光电摄像系统及计算机，其靶标为两个具有规则形状、相互间隔一定距离的光源。本发明还涉及一种以该装置进行自标定、自编码成像法多点动态挠度/位移测量的方法。本发明的优点是：实现成像倍率自标定、靶标自编码，动态测量简单。
主 权 项：1、一种自标定自编码成像法多点动态挠度/位移测量装置，包括安装在被测目标(2)上的靶标(1)、光电摄像系统(3)及计算机(4)，其特征在于：靶标(1)为两个具有规则形状、相互间隔一定距离的光源。
关 键 词：
法律状态：授权
IPC专利分类号：G01B11/16; G01B21/32