超低温六分量天平校准复位过程中的位姿检测方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201611270451.2 

申 请 日：20161231 

发 明 人：皮阳军郑万国朱小龙宋代平周海袁晓东谢志江刘飞谢鑫泉陈远斌刘超李亮亮罗欢 

申 请 人：重庆大学中国工程物理研究院激光聚变研究中心 

申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20170620 

公 开 号：CN106872139A 

代 理 人：王翔 

代理机构：重庆大学专利中心50201 

摘　　要：一种超低温六分量天平校准复位过程中的位姿检测方法，其包括步骤通过一个施力机构对位于一个低温箱内的一个校准加载头施加标准载荷；控制一个低温箱温度从常温到低温再到超低温的过程中，通过一组高精度激光位移传感器采集位于该低温箱内的一个校准加载头在X方向上的低温变形量，并通过一个复位机构补偿该校准加载头在X方向上的低温变形量；通过一个施力机构对该校准加载头施加标准载荷；通过一组高精度激光位移传感器在该低温箱外采集该校准加载头的位移量；将该校准加载头的位移量传输至一个控制系统中，以使该控制系统根据该校准加载头的位移量获得该校准加载头在该低温箱内的线位移和角位移，以在后续根据该校准加载头的线位移和角位移，通过一个复位机构进行补偿。??全部 

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法律状态： 

IPC专利分类号：G01M9/06(2006.01)I;G01C21/00(2006.01)I