共靶X射线时空分辨摄谱方法及其谱仪

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN200410040789.X 

申 请 日：20040927 

发 明 人：钟先信肖沙里熊先才钱家渝 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号重庆大学光电工程学院 

公 开 日：20050323 

公 开 号：CN1598503 

代 理 人：康海燕 

代理机构：重庆华科专利事务所 

摘　　要：一种用于共靶X射线时空分辨摄谱方法及其谱仪。谱仪的光学系统包括两个椭圆晶体分析器和上、下通道狭缝，它们的位置关系符合椭圆聚焦几何光学的原理。其方法是：将靶位于椭圆的第一个焦点上，狭缝位于椭圆的第二个焦点上，谱线探测器位于狭缝的后面，利用第一个焦点重合的两个椭圆晶体分析器进行分光，激光打靶产生的等离子体X射线经上下通道的椭圆晶体分析器分光后，穿过狭缝分别在X射线CCD相机和条纹相机的阴极面上成像，X射线CCD相机摄取空间分辨光谱，X射线条纹相机摄取时间分辨光谱。本发明在一次打靶的情况下，可以同时获得X射线的空间和时间分辨光谱，节约了打靶费用，并可提高X射线的接收效率和光谱分辨率，实时、快速获取光谱。??全部 

主 权 项： 

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法律状态： 

IPC专利分类号：G01J3/12;G01J3/40