专利类型:发明专利
语 言:中文
申 请 号:CN200810237219.8
申 请 日:20081225
申 请 人:重庆大学
申请人地址:400033重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日:20090527
公 开 号:CN101441177A
代 理 人:康海燕
代理机构:重庆华科专利事务所
摘 要:本发明公开一种适用于玻璃基微流控芯片的通用型LED诱导光纤型集成PIN光电探测器的微型荧光检测器,其激发光源采用大功率发光二极管,采用多光束光纤相结合的传输模式导入芯片检测窗。滤光系统为膜厚仅为2~3微米的发射光干涉滤色薄膜;光电检测器选用毫米级尺寸、能覆盖常用荧光试剂检测范围的芯片式PIN光电探测器;通过合理选择激发光光源和设计发射光干涉滤色薄膜的中心波长和光谱带宽,可实现不同荧光样品的检测。将发射光干涉滤色薄膜、芯片式PIN光电探测器与微流控芯片一体化集成,通过专门设计的管壳盖板与腔体的可拆装式无缝隙封合,屏蔽外界干扰光,实现芯片微管道中样品荧光信号的无干扰检测。本发明适用于生物、环境、食品等检测技术领域。
主 权 项:1. LED诱导光纤型集成PIN光电探测器的微型荧光检测器,由激发光源、光纤传输系统、滤光系统、光电检测系统、微流控芯片和系统定位装置组成;其特征在于:所述激发光源采用大功率发光二极管(1),光纤传输系统采用多光束光纤(2),滤光系统采用发射光干涉滤色薄膜(5),光电检测系统采用芯片式PIN光电探测器(6),系统定位装置采用芯片管壳盖板(3)和芯片管壳腔体(7);所述微流控芯片(4)封装在芯片管壳盖板(3)和芯片管壳腔体(7)中;所述大功率发光二极管(1)与多光束光纤(2)的入射端相结合,多光束光纤(2)的出射端固定在芯片管壳盖板(3)顶部与微流控芯片(4)微通道末端对应位置,并使出射光斑覆盖微流控芯片的微通道末端的荧光检测点;所述发射光干涉滤色薄膜(5)通过薄膜加工工艺制作在微流控芯片(4)的底部;所述芯片式PIN光电探测器(6)的光敏面正对微流控芯片(4)微通道末端荧光检测点,通过硅—玻璃键合的方式紧贴于发射光干涉滤色薄膜(5)底面,芯片式PIN光电探测器(6)的引出线焊盘与芯片管壳腔体底座的引脚相连,引出检测信号。
关 键 词:
法律状态:公开
IPC专利分类号:G01N21/64(2006.01)I