一种非同步辐射微束X射线荧光CT成像系统及方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201610181077.2
申 请 日：20160328
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400030 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20160810
公 开 号：CN105842267A
代 理 人：康海燕
代理机构：重庆华科专利事务所 50123
摘 要：本发明提出一种X射线源荧光CT成像系统，包括X射线源、多毛细管聚焦透镜、两个X射线强度探测器、样品控制台、荧光探测器以及数据处理系统。X射线管源发出的X射线光经过多毛细管聚焦透镜聚焦成微束平行光，照射到被检测样品，通过样品控制台控制被检测样品平移和转动，X射线光与被检测样品中的物质相互作用而产生荧光，利用荧光探测器对X射线荧光进行探测，数据处理系统将荧光探测器测得的X射线荧光光谱经分析处理得到X射线荧光CT的投影数据，将X射线强度探测器记录入射、出射X射线的强度进行计算得到透射CT投影数据，再通过透射CT投影数据以及X射线荧光CT投影数据对所述样品中元素分布和含量进行重建。
主 权 项：一种基于毛细管聚焦、非同步辐射X射线源荧光CT成像系统，包括X射线源（1）、多毛细管聚焦透镜（2）、两个X射线强度探测器（5）、样品控制台（6）、荧光探测器（7）以及数据处理系统；其特征在于：在X射线源（1）发出的X射线光路上设有多毛细管聚焦透镜（2）和两个X射线强度探测器（5），两个X射线强度探测器之间为样品控制台（6），样品控制台上放置样品，并X射线源发出的X射线光经过多毛细管聚焦透镜聚焦成微束平行光，照射到被检测样品，通过样品控制台控制被检测样品平移和转动，X射线光与被检测样品中的物质相互作用而产生荧光；荧光探测器（7）设置在被检测样品下方，垂直于入射X射线方向，利用荧光探测器对所述X射线荧光进行探测；荧光探测器和X射线强度探测器与数据处理系统信号连接，数据处理系统将荧光探测器测得的X射线荧光光谱经分析处理得到X射线荧光CT的投影数据，将X射线强度探测器记录的入射、出射X射线的强度进行计算得到透射CT投影数据，再通过透射CT投影数据以及X射线荧光CT投影数据对所述样品中元素分布和含量进行重建。
关 键 词：
法律状态：公开
IPC专利分类号：G01N23/223(2006.01)I