齿面残余应力测量方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201910217422.7
申 请 日：20190321
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20190531
公 开 号：CN109827691A
代 理 人：胡小龙
代理机构：重庆航图知识产权代理事务所(普通合伙)
摘 要：一种齿面残余应力测量方法,包括如下步骤：1)切齿：将待测齿面所在的轮齿沿其齿根切下；2)确定测量点：在切下的轮齿的齿面上选择位置点,且当该位置点满足kd≤R时,视为该位置点所在的齿面区域为平面,则选择该位置点为测量点；3)调节：调节齿面在测量点处的切面与残余应力仪的检测射线光路之间的夹角等于设定值,并将残余应力仪的摄像头对焦在对应测量点处；或调节齿面在所述测量点处的切面与残余应力仪的对焦探针之间的夹角等于设定值α,并使残余应力仪的对焦探针对焦在对应的测量点处；4)测量：利用残余应力仪测量该测量点所在的齿面区域的残余应力。具有方便对焦、光路和衍射环光路不会被遮挡的优点,并能够提高测量精度。
主 权 项：1.一种齿面残余应力测量方法,其特征在于：包括如下步骤：1)切齿：将待测齿面所在的轮齿沿其齿根切下；2)确定测量点：在切下的轮齿的齿面上选择位置点,且当该位置点满足kd≤R时,视为该位置点所在的齿面区域为平面,则选择该位置点为测量点；其中,d为残余应力仪投射在对应位置点所在的齿面上的光斑的直径；R为齿面在该位置点处的曲率半径；k为系数,且k≥3；3)调节：调节齿面在所述测量点处的切面与残余应力仪的检测射线光路之间的夹角等于设定值γ,并将残余应力仪的摄像头对焦在对应测量点处；或调节齿面在所述测量点处的切面与残余应力仪的对焦探针之间的夹角等于设定值α,并使残余应力仪的对焦探针对焦在对应的测量点处；4)测量：利用残余应力仪测量该测量点所在的齿面区域的残余应力。
关 键 词：
法律状态：
IPC专利分类号：G01L5/00