一种高精度相位式微波测距装置及方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201210287198.7
申 请 日：20120813
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20121219
公 开 号：CN102830395A
代 理 人：秦力军
代理机构：北京元本知识产权代理事务所11308
摘 要：本发明涉及微波测距技术领域，并公开了一种高精度相位式微波测距装置及方法，具体包括：测距信号源输出两路相同测距信号cos?wt，一路测距信号调制在微波载波上并通过功放后经过天线发射出去，无源反射器将信号反射回至测距仪，经过低噪放、带通滤波滤除杂波，并解调得到测距延迟信号cos(wt-Φ)，然后对测距延迟信号cos(wt-Φ)和信号源另一路信号cos?wt分别与参考信号cos?w0t做差频鉴相处理获得相位差Φ，进一步利用相位差Φ与被测距离D的正比关系求得距离D。本发明的微波测距装置和方法成本低，具有全天候、低成本、精度高(mm级)等优点，测程达1km以上。??全部
主 权 项：一种微波测距装置，其体征在于具体包括：微波测距仪、无源反射器，所述微波测距仪发射调制在微波载波上的测距信号COS?WT并接收无源反射器反射回的微波测距延迟信号、解调得测距延迟信号COS(WT?Φ)；所述微波测距仪分别对两组信号COS?WT与COS?W0T、COS(WT?Φ)与COS?W0T进行混频、低通滤波后的两低频信号COS(W?W0)T和COS[(W?W0)T?Φ]进行高精度鉴相得相位差Φ，根据相位差Φ计算出微波测距仪和无源反射器距离D；所述微波测距仪调制和解调单元工作在相同微波载波频段；其中W测距信号的频率，W0为参考信号的频率，Φ为相位差，T为时间。
关 键 词：
法律状态：生效
IPC专利分类号：G01S13/08(2006.01)I