薄膜材料泊松比及杨氏弹性模量的几何测量法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN200910190983.9 

申 请 日：20090927 

发 明 人：孙俊贻李英民郑周练何晓婷陈山林 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400030 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号 

公 开 日：20110202 

公 开 号：CN101672750B 

代 理 人：张先芸 

代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 

摘　　要：本发明公开了一种薄膜材料泊松比及杨氏弹性模量的几何测量法，将待检测的薄膜材料周边夹紧，使其形成半径为a的周边夹紧的圆薄膜，并在圆薄膜上施加均布载荷q，测出圆薄膜上任意两点的挠度值w(r)，根据Hencky给出的周边夹紧的圆薄膜在均布载荷作用下的精确解析解，推导出薄膜的泊松比及杨氏弹性模量的计算表达式，利用圆薄膜上任意两点的挠度值之比，便可以精确地计算出薄膜的泊松比及杨氏弹性模量。本发明薄膜材料泊松比及杨氏弹性模量的几何测量法，操作简便可行，测量参数少，求解的泊松比及杨氏弹性模量更精确，力学物理意义明确。 

主 权 项：1.一种薄膜材料泊松比及杨氏弹性模量的几何测量法，其特征在于，包括下述步骤：1)将带检测的薄膜材料周边夹紧，使其形成半径为A的周边夹紧的圆薄膜，在圆薄膜上施加均布载荷Q；2)测出圆薄膜上任意两点的挠度值 ID='ICF0001' FILE='A2009101909830002C1.TIF' WI='14' HE='6' TOP= '67' LEFT = '106' IMG-CONTENT='DRAWING' IMG-FORMAT='TIF' ORIENTATION='PORTRAIT' INLINE='YES'/>和 ID='ICF0002' FILE='A2009101909830002C2.TIF' WI='17' HE='6' TOP= '67' LEFT = '126' IMG-CONTENT='DRAWING' IMG-FORMAT='TIF' ORIENTATION='PORTRAIT' INLINE='YES'/>其中0≤λI＜1，I＝1，2；3)计算两点的挠度值之比 

关 键 词： 

法律状态：生效 

IPC专利分类号：G01N3/20