二维、大量程激光挠度/位移测量方法及装置
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN200510020375.5
申 请 日：20050206
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20050810
公 开 号：CN1651855A
代 理 人：康海燕
代理机构：重庆华科专利事务所
摘 要：一种二维大量程激光位移/挠度测量装置及测量方法，其装置包括激光发射部分和二维激光光斑接收测量部分；激光发射部分由激光器和安装支架组成，激光器安装支架为一个可变阻尼铰链结构；二维激光光斑接收测量部分由接收屏幕、摄像机、发光或不发光标记组成。其测量方法是：通过控制可控阻尼铰链结构使反映被测结构位置的激光光束水平射到光斑接收测量部分上，形成光斑，经过摄像机对光斑和标记成像，再计算激光光斑像的重心位置和发光二极管像的相对距离，获得目前光斑的坐标，把坐标减去初始值，即获得现在光斑的位移值，得出被测结构的二维位移。本装置和方法可以实现大量程、二维测量，具有恒定的分辨力，不受被测机构转动影响，环境适应性能强。
主 权 项：1、二维、大量程激光位移/挠度测量装置，其特征在于：它由激光发射部分和二维激光光斑接收测量部分构成；激光发射部分由激光器和激光器安装支架组成，激光器安装支架为一个可变阻尼铰链结构，铰链的上部安装在被测结构上，下部摆杆上安装激光器，激光光束发射方向与摆杆垂直；二维激光光斑接收测量部分由激光光斑接收屏幕、摄像机、发光或不发光标记组成；激光光斑接收屏幕位于前端，与激光光束发射方向正对，具有粗糙半透明表面，发光或不发光标记安装在四方形屏幕的四角上，摄像机安装在屏幕之后，并被置于与屏幕一起密封连接的保护外壳内。
关 键 词：
法律状态：授权
IPC专利分类号：G01B11/00; G01B11/03