共靶X射线时空分辨摄谱方法及其谱仪
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN200410040789.X
申 请 日：20040927
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号重庆大学光电工程学院
公 开 日：20050323
公 开 号：CN1598503
代 理 人：康海燕
代理机构：重庆华科专利事务所
摘 要：一种用于共靶X射线时空分辨摄谱方法及其谱仪。谱仪的光学系统包括两个椭圆晶体分析器和上、下通道狭缝，它们的位置关系符合椭圆聚焦几何光学的原理。其方法是：将靶位于椭圆的第一个焦点上，狭缝位于椭圆的第二个焦点上，谱线探测器位于狭缝的后面，利用第一个焦点重合的两个椭圆晶体分析器进行分光，激光打靶产生的等离子体X射线经上下通道的椭圆晶体分析器分光后，穿过狭缝分别在X射线CCD相机和条纹相机的阴极面上成像，X射线CCD相机摄取空间分辨光谱，X射线条纹相机摄取时间分辨光谱。本发明在一次打靶的情况下，可以同时获得X射线的空间和时间分辨光谱，节约了打靶费用，并可提高X射线的接收效率和光谱分辨率，实时、快速获取光谱。??全部
主 权 项：1、一种共靶X射线时空分辨摄谱方法，其特征在于：采用两个完全相同的椭圆晶体分析器位于上下两个通道中作分光元件，利用椭圆几何光学具有自聚焦的原理，将靶放在两个椭圆晶体分析器相重合的椭圆第一个焦点上，两个狭缝分别位于两个椭圆晶体分析器的椭圆第二个焦点上，在狭缝后面分别布置X射线CCD相机和条纹相机，激光打靶产生的等离子体X射线同时被两个椭圆晶体分析器分光，分别采用X射线CCD相机和条纹相机在上下两个通道狭缝的后面摄取空间和时间分辨光谱，因此在一次打靶的情况下，可以同时获得激光等离子体X射线的空间和时间分辨光谱。
关 键 词：
法律状态：授权
IPC专利分类号：G01J3/12;G01J3/40