一种确定均布载荷下预应力圆薄膜最大应力值的方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201410238396.3 

申 请 日：20140530 

发 明 人：何晓婷孙俊贻郑周练蔡珍红曹亮练永盛裴新新 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20151230 

公 开 号：CN103983380B 

代 理 人：穆祥维 

代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 

摘　　要：本发明公开了一种确定均布载荷下预应力圆薄膜最大应力值的方法：将半径为a、厚度为h、杨氏弹性模量为E、泊松比为ν、预应力为σ₀的圆薄膜，在其周圈固定夹紧，并对其施加一个横向均布载荷q，那么基于这个圆薄膜轴对称变形问题的静力平衡分析，利用载荷测量值q，则可以准确确定出薄膜的最大应力值σ_m。 

主 权 项：一种确定均布载荷下预应力圆薄膜最大应力值的方法，其特征是：将半径为a、厚度为h、杨氏弹性模量为E、泊松比为ν、预应力为σ₀的圆薄膜，在其周圈固定夹紧，并对其施加一个横向均布载荷q，那么基于这个圆薄膜轴对称变形问题的静力平衡分析，利用载荷测量值q，薄膜的最大应力值σ_m可以由以下公式确定：${\sigma }_m={\left(\frac{a^{2}E}{2^5{h}^{2}c}\right)}^{1/3}{q}^{2/3},$其中c的值由方程$2c{f}^{\prime }\left(c\right)-f\left(c\right)(v-1)+(v-1)\frac{2^{5/3}{h}^{2/3}{c}^{1/3}}{a^{2/3}{q}^{2/3}{E}^{1/3}}{\sigma }_0=0$确定,而f(c)和f′(c)分别为：$\begin{array}{c}f\left(c\right)=1-\frac{1}{2}c-\frac{1}{6}{c}^2-\frac{13}{144}{c}^3-\frac{17}{288}{c}^4-\frac{37}{864}{c}^5-\frac{1205}{36288}{c}^6-\frac{219241}{8128512}{c}^7-\\ \frac{6634069}{292626432}{c}^8-\frac{51523763}{2633637888}{c}^9-\frac{998796305}{57940033536}{c}^{10}-\frac{118156790413}{7648084426752}{c}^{11}\end{array}$和$\begin{array}{c}{f}^{\prime }\left(c\right)=-\frac{1}{2}-\frac{1}{3}c-\frac{13}{48}{c}^2-\frac{17}{72}{c}^3-\frac{185}{864}{c}^4-\frac{1205}{6048}{c}^5-\frac{219241}{1161216}{c}^6-\\ \frac{6634069}{35678304}{c}^7-\frac{51523763}{292626432}{c}^8-\frac{4993981525}{28970016768}{c}^9-\frac{118156790413}{695280402432}{c}^{10}\end{array};$所有参量皆采用国际单位制。 

关 键 词： 

法律状态：授权 

IPC专利分类号：G01L1/00(2006.01)I