一种确定周边夹紧的圆薄膜集中力下薄膜挠度值的方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201410111113.9 

申 请 日：20140324 

发 明 人：孙俊贻何晓婷蔡珍红郑周练曹亮练永盛荣阳 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20160824 

公 开 号：CN103837400B 

代 理 人：穆祥维 

代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 

摘　　要：本发明公开了一种确定周边夹紧的圆薄膜集中力下薄膜挠度值的方法：将半径为a、厚度为h、杨氏弹性模量为E、泊松比为v的圆薄膜，在其周圈固定夹紧，采用一个带有无摩擦平底的半径为b的圆柱体作为加载轴，在圆薄膜的中心处施加一个横向载荷F，加载时圆柱体与圆薄膜保持在同一轴线上，并记α=b/a，那么基于这个轴对称圆薄膜问题的静力平衡分析，利用载荷测量值F，则可以准确确定出点r处的薄膜挠度值w(r)。 

主 权 项：一种确定周边夹紧的圆薄膜集中力下薄膜挠度值的方法，其特征是：将半径为a、厚度为h、杨氏弹性模量为E、泊松比为v的圆薄膜，在其周圈固定夹紧，采用一个带有无摩擦平底的半径为b的圆柱体作为加载轴，在圆薄膜的中心处施加一个横向载荷F，加载时圆柱体与圆薄膜保持在同一轴线上，并记α＝b/a，那么基于这个轴对称圆薄膜问题的静力平衡分析，利用载荷测量值F，点r处的薄膜挠度值w(r)，可以按照以下三种情形进行计算确定:情形①如果(1+ν)(3?α²)＝4,则点r处的薄膜挠度值为$w\left(r\right)={\left(\frac{a^{2}F}{\pi hE}\right)}^{1/3}[{(3-{\alpha }^2)}^{1/3}-{(3\frac{r^2}{a^2}-{\alpha }^2)}^{1/3}]$其中π是圆周率；情形②如果(1+ν)(3?α²)＜4则点r处的薄膜挠度值为其中，π是圆周率，由公式确定，而和的值由公式和确定；情形③如果(1+ν)(3?α²)＞4则点r处的薄膜挠度值为其中，π是圆周率，由公式确定，而和的值由公式和确定；所有参量皆采用国际单位制。 

关 键 词： 

法律状态：授权 

IPC专利分类号：G01N3/00(2006.01)I