一种全参考电阻抗成像图像质量评价方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201711422729.8
申 请 日：20171225
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20180605
公 开 号：CN108122229A
代 理 人：李金蓉
代理机构：重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102
摘 要：本发明为一种全参考电阻抗成像图像质量评价方法。该图像质量评价方法将电阻抗成像场域的真实电阻率分布图像作为参考图像，将电阻抗成像结果图像作为评价对象，通过计算成像结果与参考图像对应像素点像素值归一化后的像素均方误差(Pixel?Mean?Squared?Error,PMSE)和对比度均方误差(Contrast?Mean?Squared?Error,CMSE)，将两种误差作为图像的分辨率和对比度评价指标，并纵向比较两种误差的大小来实现对电阻抗成像图像质量的评价，从而实现对电阻抗成像的算法和成像能力的优劣进行评判。整个评价方法数学过程简单、合理，能实现对电阻抗成像图像质量的快速和准确的评价。
主 权 项：一种全参考电阻抗成像图像质量评价方法，其特征在于，包括步骤：1)、获取需要电阻抗成像的场域，并将电阻抗成像的场域通过有限元软件剖分成若干个单元，将所述进行有限元剖分的单元作为像素点，每一个单元的实际电导率作为所述像素点的像素值，形成图像质量评价的参考图像；2)、对步骤1)参考图像的场域通过电阻抗成像算法进行成像，得到成像结果图像；3)、提取步骤1)参考图像的像素点和像素值，以及提取电阻抗成像图像的像素点和像素值，计算电阻抗成像结果相对于参考图像的像素均方误差和对比度均方误差，将不同成像结果图像的像素均方误差和对比度均方误差进行分别比较作为图像质量评价指标对图像质量进行判定。
关 键 词：电阻抗成像;图像质量评价;图像;参考图像;均方误差;像素;电阻率分布;对比度评价;成像结果;成像能力;结果图像;评价对象;数学过程;参考;分辨率;归一化;像素点;场域;算法;评判
法律状态：公开
IPC专利分类号：G06T7/00(2017.01)I