绝缘子污秽度检测方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN200910104785.6
申 请 日：20090904
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20110720
公 开 号：CN101661076B
代 理 人：郭云
代理机构：重庆市前沿专利事务所 50211
摘 要：本发明公开一种绝缘子污秽度检测方法，其特征在于按下列步骤进行：一、获取紫外放电脉冲数x10，获取温度值x30和湿度值x40，获取气象条件；二、确定各参数归一化后的值；三、确定各指标因素的常权值；四、获得各指标因素的变权值：五、生成放电脉冲和运行年限的隶属度函数表，温度值、湿度值和气象条件的隶属度函数表：六、生成固有因素和环境因素下指标层的单因素评判矩阵A和矩阵B：七、获得固有因素的评价矩阵S：八、获得环境因素的评价矩阵Z；九、获得绝缘子的状态评价v。其显著效果是：替代工作人员登杆检查的传统方法，实现无间断的实时检测。有效地对绝缘子当前运行状况做出准确可靠的等级分析，便于工作人员能合理地对绝缘子进行监控和更换。
主 权 项：1、一种绝缘子污秽度检测方法，其特征在于按下列步骤进行：步骤一：在塔架上安装紫外传感系统(B)、温湿度传感器(1)和照像机(2)，紫外传感系统(B)在单位时间内获取绝缘子表面紫外放电脉冲数X10，温湿度传感器(1)获取绝缘子附近的温度值X30和湿度值X40，照像机(2)获取现场绝缘子图片；步骤二：对紫外放电脉冲数X10，运行年限X20，温度值X30和湿度值X40进行归一化处理，确定归一化后的紫外放电脉冲数X1、归一化后的运行年限X2、归一化后的温度值X3、归一化后的湿度值X4，气象条件函数X5是根据现场绝缘子图片信息，采用专家评分方法获得，评分区间为[0，1]，分值越大，指标性能越优；步骤三：建立绝缘子评估因素两层模型，第一层为项目层，该项目层设置有固有因素和环境因素，第二层为指标层，指标层设置有紫外放电脉冲数指标、运行年限指标、温度值指标、湿度值指标和气象条件指标，其中紫外放电脉冲数指标和运行年限指标隶属于固有因素，温度值指标、湿度值指标和气象条件指标隶属于环境因素，并确定各指标因素的常权值如下：固有因素常权值N1＝0.8333；环境因素常权值N2＝0.1667；紫外放电脉冲常权值M1＝0.8；运行年限常权值M2＝0.2；温度常权值M3＝0.122；湿度常权值M4＝0.5584；气象条件常权值M5＝0.3196；步骤四：通过所述归一化后的紫外放电脉冲数X1、归一化后的运行年限X2、归一化后的温度值X3、归一化后的湿度值X4、气象条件函数X5，以及各指标因素的常权值获得指标层各因素的变权值：紫外放电脉冲数变权值W1：
关 键 词：
法律状态：生效
IPC专利分类号：G01R31/12; G01R31/14