一种非接触式电位测量方法和装置

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201510991833.3 

申 请 日：20151224 

发 明 人：李松浓周强侯兴哲周孔均王毅何国军胡晓锐宫林郑可梁星何为刘型志 

申 请 人：国网重庆市电力公司电力科学研究院国家电网公司重庆大学 

申请人地址：401123 重庆市北部新区黄山大道中段80号 

公 开 日：20160323 

公 开 号：CN105425054A 

代 理 人：王宝筠 

代理机构：北京集佳知识产权代理有限公司 11227 

摘　　要：本申请公开了一种非接触式电位测量方法和装置，该方法包括：测量离散分布在积分路径上的多个电场强度值，其中所述积分路径为从电位待测点指向电位参考点的直线段；将所述多个电场强度值代入到用于求取电场强度沿所述积分路径的积分近似值的高斯—勒让德求积公式中，求取得到所述积分近似值，其中求取得到所述积分近似值即为所述电位待测点的电位近似值，从而解决了现有的电位测量装置在绝缘结构设计上投入成本巨大的问题。 

主 权 项：一种非接触式电位测量方法，其特征在于，包括：测量离散分布在积分路径上的多个电场强度值，其中所述积分路径为从电位待测点指向电位参考点的直线段；将所述多个电场强度值代入到用于求取电场强度沿所述积分路径的积分近似值的高斯—勒让德求积公式中，以求取得到所述积分近似值，其中求取得到的所述积分近似值即为所述电位待测点的电位近似值。 

关 键 词： 

法律状态：公开 

IPC专利分类号：G01R29/12(2006.01)I