专利类型:发明专利
语 言:中文
申 请 号:CN201610377998.6
申 请 日:20160531
发 明 人:李国龙钟映寰王时龙廖琳钟金童
申 请 人:重庆大学
申请人地址:400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日:20180309
公 开 号:CN105783845B
代 理 人:伍伦辰;赵英
代理机构:重庆博凯知识产权代理有限公司 50212
摘 要:本发明公开了一种数控磨齿机在机测量系统的齿廓测量方法,其特征在于,包括如下步骤:a、测量误差补偿模型的建立;磨齿加工前,采用在机测量系统对与待测齿轮相对应的标准齿轮进行测量,得到在机测量系统在标准齿轮齿廓的测点处的误差值,并将该误差值转换成在机测量系统的补偿值,建立测量误差补偿模型;b、在对齿轮工件工作区进行测量时,利用测量误差补偿模型中的补偿值对测点的测量值进行补偿,得到待测齿轮齿廓的测量结果。本发明具有能够根据测量误差对测量进行补偿,提高在机测量的精度,有利于提高齿轮合格率等优点。
主 权 项:一种数控磨齿机在机测量系统的齿廓测量方法,其特征在于,包括如下步骤:a、测量误差补偿模型的建立;磨齿加工前,采用在机测量系统对与待测齿轮相对应的标准齿轮进行测量,得到在机测量系统在标准齿轮齿廓的测点处的误差值,并将该误差值转换成在机测量系统的补偿值,建立测量误差补偿模型;b、在对齿轮工件工作区进行测量时,利用测量误差补偿模型中的补偿值对测点的测量值进行补偿,得到待测齿轮齿廓的测量结果;所述步骤a中,标准齿轮齿廓的测点处的误差值测量还包括如下步骤:a1、初步确定X轴的位置偏差δx;对标准齿轮齿廓上的任一测点A进行测量时,测头的圆心点的理论定位点为M,实际定位点为M1,对应的实际测点为A1,则测点A处X轴的位置偏差δx为:δX=XM?XM1式中:rk为测头的半径,rb为基圆的半径,εA为测点A的展角,εA1为测点A1的展角,βb为齿轮螺旋角;a2、确定C轴的旋转误差;将上述步骤中的位置偏差δx补偿到在机测量系统中,再次对测点A进行测量,测头的圆心点的实际定位点为M2,对应的实际测点为A2,则C轴的旋转误差为:εC=εA?εA2确定X轴总的位置偏差δx总为:δX总=XM?XM2式中,XM2=(rbcosεA2+rbεA2sinεA2+rkcosβbsinεA2)cosγA2—(rbsinεA2+rbεA2cosεA2+rkcosβbcosεA2)sinγA2εA2为测点A2的展角;其中,X轴为沿齿轮工件径向设置的轴,C轴为齿轮工件的主轴转动轴。
关 键 词:机测量系统;测量误差补偿模型;齿廓测量方法;数控磨齿机;标准齿轮;齿轮齿廓;转换;建立;提高;加工;公开;合格率;有利于;对应;得到;包括;进行;如下;具有;工作;
法律状态:授权
IPC专利分类号:G01B21/20(2006.01)I