基于盲信号分离算法的电路故障诊断方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201110282932.6
申 请 日：20110922
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20140924
公 开 号：CN102445650B
代 理 人：王海权
代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
摘 要：一种基于盲信号分离算法的电路故障诊断方法，该方法利用不同种类元件在相应电压激励下，呈现不同特征电流响应的特点，对电路按照元件种类进行分类和可测试性设计；电路测试时，将各种元件按照预先设计的一定组合方式连接，采集各种元件输出的混合叠加信号，然后利用盲信号分离技术对该混合叠加信号进行分离估计还原出原始信号，通过与各元件正常响应信号的统计相关性分析，辨识出是否有元件发生故障以及故障类型。该方法只需对混合信号进行检测分析，使故障诊断的测试过程得到简化，且不受电路类型的局限。
主 权 项：基于盲信号分离算法的电路故障诊断方法，其特征在于，其步骤为：1）对所需诊断的故障电路进行分析，设计成I个测试性组合电路连接方式；2）对测试性组合电路加载测试电压???????????????????????????????????????????????，采集混合叠加信号，并通过公式记算出，为第I个测试性组合电路正常时在测试电压下的的输出信号；3）将与预设阀值进行比较，小于预设阀值则没有故障，大于预设阀值则第I组测试性组合电路出现故障，转入步骤4）；4）将的波形与数据库中所存有波形进行比对，与数据库所存波形匹配，则该波形所对应的电子元件出现问题，反之转入步骤5）；5）对混合观测信号进行盲分离，分离成矩阵，计算分离结果与之间的相关系数，为测试性组合电路正常时的分离矩阵，找出不匹配的第J个分离矩阵；6）将步骤5）中所述不相匹配的与数据库所存的故障信号进行比较，确定故障电路元件种类和故障类型。2011102829326100001DEST_PATH_IMAGE002.JPG,2011102829326100001DEST_PATH_IMAGE004.JPG,2011102829326100001DEST_PATH_IMAGE006.JPG,2011102829326100001DEST_PATH_IMAGE008.JPG,2011102829326100001DEST_PATH_IMAGE010.JPG,819823DEST_PATH_IMAGE002.JPG,126039DEST_PATH_IMAGE008.JPG,941810DEST_PATH_IMAGE008.JPG,903950DEST_PATH_IMAGE008.JPG,2011102829326100001DEST_PATH_IMAGE012.JPG,2011102829326100001DEST_PATH_IMAGE014.JPG,2011102829326100001DEST_PATH_IMAGE016.JPG,365935DEST_PATH_IMAGE016.JPG,2011102829326100001DEST_PATH_IMAGE018.JPG,293702DEST_PATH_IMAGE018.JPG,2011102829326100001DEST_PATH_IMAGE020.JPG,339762DEST_PATH_IMAGE020.JPG
关 键 词：
法律状态：公开
IPC专利分类号：G01R31/28