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  • 发明人=胡小国x
排序:
用于微流控芯片上的侧壁式非接触电导检测系统

申请号:CN200810237217.9

申请日:20081223

申请人:重庆大学

浏览量:0
摘要:本发明涉及一种用于微流控芯片上的侧壁式非接触电导检测系统,是在微流控芯片分离管道末端集成侧壁式电导检测电极,并覆盖绝缘层构成非接触微通道侧壁双电极电导检测体系。通过芯片上侧壁式电导检测电极、信号采集和处理电路,来实现微通...
用于微流控芯片上的侧壁式非接触电导检测系统

申请号:CN200810237217.9

申请日:20081223

申请人:重庆大学

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摘要:本发明涉及一种用于微流控芯片上的侧壁式非接触电导检测系统,是在微流控芯片分离管道末端集成侧壁式电导检测电极,并覆盖绝缘层构成非接触微通道侧壁双电极电导检测体系。通过芯片上侧壁式电导检测电极、信号采集和处理电路,来实现微通...
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