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  • 发明人=杨士德x
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一种光学微位移测量系统

申请号:CN201821057143.6

申请日:20180704

申请人:重庆大学

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摘要:本实用新型公开了一种光学微位移测量系统,被测物体通过连接杆与激光管相连,激光管与被测物体有相同的位移;若激光管发出的光经透镜系统形成光点只打在光电二极管阵列上某个光电二极管上,激光管的位置与光电二极管阵列中光点位置对应,...
一种光学微位移测量系统

申请号:CN201810725273.0

申请日:20180704

申请人:重庆大学

浏览量:0
摘要:本发明公开了一种光学微位移测量系统,被测物体通过连接杆与激光管相连,激光管与被测物体有相同的位移;若激光管发出的光经透镜系统形成光点只打在光电二极管阵列上某个光电二级管上,激光管的位置与光电二极管阵列中光点位置对应,即与...
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