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  • 发明人=张兴元x
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一种氮化硅铝介质层低辐射薄膜及其制备工艺

申请号:CN201310285386.0

申请日:20130709

申请人:重庆大学

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摘要:一种氮化硅铝介质层低辐射薄膜及其制备工艺,属于功能薄膜技术领域。本发明采用磁控溅射法制备一种氮化硅铝介质层低辐射薄膜,其膜层结构从衬底基片往上依次为:钽过渡层、银层、氮化硅铝介质层。该膜层可见光透过率高,红外辐射率低,拥...
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