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发明人=宋伟举

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张拉膜结构预张力测量方法

申请号：CN201010517054.7

申请日：20101022

申请人：重庆大学

浏览量：0

摘要：本发明提供一种张拉膜结构预张力测量方法，该方法步骤如下：1)将一质点小球入射一固定边界的张力膜面，并使小球弹回；2)同时，测量该固定边界张拉膜面内小球的入射速度v0和反射速度vt，2)测量同一固定边界的张拉膜面内小球的入...

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