一种内齿圈的齿厚测量工具

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201710135661.9 

申 请 日：20170308 

发 明 人：杜雪松黄玉成朱才朝宋朝省刘豪 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20170524 

公 开 号：CN106705798A 

代 理 人：唐开平 

代理机构：重庆大学专利中心 50201 

摘　　要：本发明公开了一种内齿圈的齿厚测量工具，它包括百分表表盘（4）、端面定位部件（2）、螺旋测微机构（3）和量棒距测量机构（1）；百分表表盘（4）安装在螺旋测微机构（3）的顶端，端面定位部件（2）设在螺旋测微机构（3）的中部，量棒距测量机构（1）安装于螺旋测微机构（3）的底端。本发明的技术效果是：能快速、精确测量变齿厚内齿圈的齿厚，且操作简单，便于携带。 

主 权 项：一种内齿圈的齿厚测量工具，其特征是：包括百分表表盘（4）、端面定位部件（2）、螺旋测微机构（3）和量棒距测量机构（1）；百分表表盘（4）安装在螺旋测微机构（3）的顶端，端面定位部件（2）设在螺旋测微机构（3）的中部，量棒距测量机构（1）安装于螺旋测微机构（3）的底端。 

关 键 词： 

法律状态：公开 

IPC专利分类号：G01B5/06