测量低电压信号的光电装置

专利类型：实用新型 

语 言：中文 

申 请 号：CN201520341496.9 

申 请 日：20150525 

发 明 人：张建超黎建廷杨庆孙尚鹏其他发明人请求不公开姓名 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400030 重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20151028 

公 开 号：CN204731298U 

代 理 人：武君 

代理机构：北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 

摘　　要：本实用新型属于电力检测技术领域，提供了一种测量低电压信号的光电装置，包括沿光路依次设置的激光准直器Ⅰ、起偏器、1/4波片、锗酸铋晶体、检偏器和激光准直器Ⅱ，所述激光准直器Ⅰ的光输入端通过光纤与激光源的光输出端连接，所述激光准直器Ⅱ的光输出端通过光纤与光电探测器的光输入端连接，所述锗酸铋晶体的上表面和下表面镀有作为检测电极的金属层，可达到增大晶体内部电场均匀程度，减小信号噪声的目的；本实用新型的装置降低了长期运行具有的风险，测量结果准确，方便信号的长距离传输，具有较高的工程应用价值。 

主 权 项：测量低电压信号的光电装置，其特征在于：包括沿光路依次设置的激光准直器Ⅰ、起偏器、1/4波片、锗酸铋晶体、检偏器和激光准直器Ⅱ，所述激光准直器Ⅰ的光输入端通过光纤与激光源的光输出端连接，所述激光准直器Ⅱ的光输出端通过光纤与光电探测器的光输入端连接，所述锗酸铋晶体的上表面和下表面镀有作为检测电极的金属层。 

关 键 词： 

法律状态：授权 

IPC专利分类号：G01R19/00(2006.01)I